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日置HIOKI IM3570阻抗分析仪测量软件
ACurveTracer-IM3570测量软件——高效精准的多参数动态测试解决方案
产品概述
ACurveTracer-IM3570测量软件是一款专为控制HIOKI IM3570 LCR表设计的高性能测试工具，支持对电子元器件、材料及电路的多参数动态测量与分析。通过灵活的扫描模式、实时数据记录及可视化功能，满足研发、生产检测及学术研究中对复杂参数变化的高精度测量需求。
核心功能亮点
1. 全面参数测量能力
支持18种关键参数的实时测量与记录，涵盖：
- 阻抗参数：Z、Y、θ、X、G、B、Q
- 电阻特性：Rdc（直流电阻）、Rs（ESR）、Rp
- 电感与电容：Ls、Lp、Cs、Cp
- 介质特性：D（tanδ）、σ（电导率）、ε（介电常数）
2. 动态时域分析
- 实时绘制参数随时间变化的曲线，捕捉瞬态特性与长期稳定性。
- 自定义设置测量速度、间隔及运行时长，适配短时快检或持续监测场景。
3. 智能扫描模式
- 扫频/扫电压/扫电流功能：支持线性与对数扫描，灵活设置起止值、步长及方向（正扫、反扫、双向扫描）。
- 多曲线对比：重复多次扫描并叠加结果，快速评估器件性能一致性。
- 自定义扫描序列：支持用户导入预定义扫描文件，满足非标测试需求。
4. 高效数据管理
- 实时保存与导出：数据以CSV、TXT格式存储，兼容主流分析软件（如Excel、MATLAB）。
- 动态可视化：测量过程中同步绘制曲线，即时观察趋势，快速定位异常。
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典型应用场景
- 元器件研发：电容器/电感器的频率响应分析、材料介电特性评估。
- 生产线质检：批量产品ESR、Q值、直流电阻的快速筛选与一致性检测。
- 可靠性测试：长时间运行下器件参数漂移监测与老化分析。
- 教学实验：动态电路特性可视化教学与科研数据采集。
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技术优势
- 高兼容性：无缝对接HIOKI IM3570硬件，操作界面简洁直观。
- 灵活扩展：支持自定义扫描序列，适配复杂测试需求。
- 高效稳定：数据实时存储防丢失，确保长时间测试可靠性。
ACurveTracer-IM3570测量软件以精准、高效、灵活的特点，成为电子测量领域提升效率与洞察力的理想工具。
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